次微米MOS元件中反向短通道效應特性分析與模式

標題:	次微米MOS元件中反向短通道效應特性分析與模式 The Characterization and Modeling of the Reverse Short Channel Effect in Submicron MOS Devices
作者:	莊紹勳 Chung Steve S 國立交通大學電子工程研究所
公開日期:	1995
官方說明文件#:	NSC84-2215-E009-075
URI:	http://hdl.handle.net/11536/96414 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=172275&docId=29275
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