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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Chang, CY
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公開日期
標題
作者
1-二月-2005
2 V-operated InGaP-AlGaAs-InGaAs enhancement-mode pseudomorphic HEMT
Chu, LH
;
Chang, EY
;
Chen, SH
;
Lien, YC
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2005
2-bit poly-Si-TFT nonvolatile memory using hafnium oxide, hafnium silicate and zirconium silicate
Lin, YH
;
Chien, CH
;
Chou, TH
;
Chao, TS
;
Chang, CY
;
Lei, TF
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-八月-1997
2-V-operation delta-doped power HEMT's for personal handy-phone systems
Lai, YL
;
Chang, EY
;
Chang, CY
;
Liu, TH
;
Wang, SP
;
Hsu, HT
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-八月-1997
2-V-operation delta-doped power HEMT's for personal handy-phone systems
Lai, YL
;
Chang, EY
;
Chang, CY
;
Liu, TH
;
Wang, SP
;
Hsu, HT
;
交大名義發表
;
電子工程學系及電子研究所
;
National Chiao Tung University
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-五月-1996
5 mm high-power-density dual-delta-doped power HEMT's for 3 V L-band applications
Lai, YL
;
Chang, EY
;
Chang, CY
;
Chen, TK
;
Liu, TH
;
Wang, SP
;
Chen, TH
;
Lee, CT
;
材料科學與工程學系
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Materials Science and Engineering
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-五月-1996
5 mm high-power-density dual-delta-doped power HEMT's for 3 V L-band applications
Lai, YL
;
Chang, EY
;
Chang, CY
;
Chen, TK
;
Liu, TH
;
Wang, SP
;
Chen, TH
;
Lee, CT
;
材料科學與工程學系
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Materials Science and Engineering
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-1996
Analysis of high-field hole transport characteristics in Si1-xGex alloys with a bond orbital band structure
Liou, TS
;
Wang, TH
;
Chang, CY
;
交大名義發表
;
電子工程學系及電子研究所
;
National Chiao Tung University
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
30-九月-2002
Analysis of low-frequency noise in boron-doped polycrystalline silicon-germanium resistors
Chen, KM
;
Huang, GW
;
Chiu, DY
;
Huang, HJ
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-2003
Analysis of narrow width effects in polycrystalline silicon thin film transistors
Zan, HW
;
Chang, TC
;
Shih, PS
;
Peng, DZ
;
Huang, TY
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-2000
Annealing effects on the interfacial reactions of Ni on Si0.76Ge0.24 and Si1-x-yGexCy
Luo, JS
;
Lin, WT
;
Chang, CY
;
Shih, PS
;
Pan, FM
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-五月-2006
Annealing temperature effect on the performance of nonvolatile HfO2Si-oxide-nitride-oxide-silicon-type flash memory
Lin, YH
;
Chien, CH
;
Chang, CY
;
Lei, TF
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-九月-2000
An anomalous crossover in Vth roll-off for indium-doped nMOSFETs
Chang, SJ
;
Chang, CY
;
Chen, CM
;
Chou, JW
;
Chao, TS
;
Huang, TY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1996
Anomalous selective tungsten growth by chemical vapor deposition
Mei, YJ
;
Chang, TC
;
Sheu, JD
;
Yeh, WK
;
Pan, FM
;
Chang, CY
;
交大名義發表
;
電子工程學系及電子研究所
;
National Chiao Tung University
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2003
Anomalous substrate current in polycrystalline silicon thin-film transistors
Zan, HW
;
Chen, SC
;
Wang, SH
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2003
Application of a membrane bioreactor system for opto-electronic industrial wastewater treatment - a pilot study
Chen, TK
;
Chen, JN
;
Ni, CH
;
Lin, GT
;
Chang, CY
;
環境工程研究所
;
Institute of Environmental Engineering
1-三月-2006
An assessment of single-electron effects in multiple-gate SOI MOSFETs with 1.6-nm gate oxide near room temperature
Lee, W
;
Su, P
;
Chen, HY
;
Chang, CY
;
Su, KW
;
Liu, S
;
Yang, FL
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-八月-1996
Atomic force microscopy study on the surface structure of oxidized porous silicon
Young, TF
;
Huang, IW
;
Yang, YL
;
Kuo, WC
;
Jiang, IM
;
Chang, TC
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-二月-2006
Attitudes towards peer assessment: a comparison of the perspectives of pre-service and in-service teachers
Wen, ML
;
Tsai, CC
;
Chang, CY
;
交大名義發表
;
National Chiao Tung University
1-十二月-1996
Au/Ge/Pd ohmic contacts to n-GaAs with the Mo/Ti diffusion barrier
Chai, CY
;
Huang, JA
;
Lai, YL
;
Wu, JW
;
Chang, CY
;
Chan, YJ
;
Cheng, HC
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-十月-2001
An automatic macro program for radio frequency MOSFET characteristics analysis
Su, CY
;
Chang, SJ
;
Chen, LP
;
Ho, YP
;
Huang, GW
;
Lin, DC
;
Tseng, BM
;
Lee, HY
;
Kuan, JF
;
Deng, YM
;
Wen, KA
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics