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公開日期標題作者
2004Delta-Sigma調變器之錯誤診斷陳威憲; Wei-Xian Chen; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1994NH3退火效應在複晶矽薄膜電晶體上之研究顏文正; Wen-Cheng Yen; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
2002一個基於路徑延遲慣量之新延遲障礙測試方法陳俊良; Chung-Liang Chen; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1993一個測試圖樣平行障礙平行序向邏輯電路障礙模擬硬體加速器謝宗宏; Tzong-Honge Shieh; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1996一個測試圖樣平行障礙平行序向邏輯電路障礙模擬硬體加速器之實現李增煌; Lee, Ten_Hwang; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1993一應用於靜態供電電流之內建式電流感應器鄭啟政; Chie-Cheng Cheng; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
2000二氧化鋯氧化層之磁滯現象與直/交流可靠性研究喬世豪; Shih-Hao Chiao; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1998以N2O氣體之快速加熱氮化於複晶矽氧化層及薄膜電晶體之研究高泉豪; Kao Chyuan-Haur; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1992以內容地址記憶器架構且基於單ㄧ事件等效的序向障礙模擬林仲晟; Chung-Cheng Lin; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
2000以振盪環測試方式測試系統晶片環境下的內連線劉伯崧; Bor-Song Liu; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1995低溫(850C)N2O製程在金氧半場效電晶體及薄膜電晶體製造上的應用林進福; Lin, Jin-Fu; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
2007低耗能並考慮低成本效益之系統晶片測試策略林世平; Shih Ping Lin; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1993使用二元樹和多元樹來做自動測試圖樣產生器陳淵傑; Yuan-Jie Chen; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
2003使用數位測試機台進行類比動態測試技術章即時; Chi-Shih Chang; 李崇仁; 蘇朝琴; Chung-Len Lee; Chau-Chin Su; 電機學院電子與光電學程
1994使用軟體指令運算的障礙模擬器周宗平; Tzung-Ping Chou; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1993分散式處理的序向電路測試圖樣產生器王信華; Sin-Hwa Wang; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
2003可測試性設計與內建自我測試技術於有線等效保密智財之應用與研究林隆裕; Lung-Yu Lin; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電機學院電子與光電學程
1992可自我診斷的內建自我測試電路記憶體設計牟慶聰; Chin-tsung Mo; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1993基於光罩式唯讀記憶體架構之省時結構化測試法吳聰志; Tsung-Chin Wu; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1992基於測試圖樣產生之序向電路的部分掃描設計王哲元; Che-Yuan Wang; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
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