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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Deng, Chih-Kang
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顯示 1 到 16 筆資料,總共 16 筆
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標題
作者
2008
CF4-plasma-induced fluorine passivation effects on poly-Si TFTs with high-kappa Pr2O3 gate dielectric
Chang, Chia-Wen
;
Huang, Po-Wei
;
Deng, Chih-Kang
;
Huang, Jiun-Jia
;
Chang, Hong-Ren
;
Lei, Tan-Fu
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2007
Characteristics of Pr2O3 gate dielectric thin-film transistors fabricated on fluorine-ion-implanted polysilicon films
Chang, Chia-Wen
;
Deng, Chih-Kang
;
Huang, Jiun-Jia
;
Chang, Hong-Ren
;
Lei, Tan-Fu
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-六月-2008
Characterizing fluorine-ion implant effects on poly-Si thin-film transistors with Pr2O3 gate dielectric
Chang, Chia-Wen
;
Deng, Chih-Kang
;
Wu, Shih-Chieh
;
Huang, Jiun-Jia
;
Chang, Hong-Ren
;
Lei, Tan-Fu
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-七月-2010
Effects of CF(4) Plasma Treatment on the Electrical Characteristics of Poly-Silicon TFTs Using a Tb(2)O(3) Gate Dielectric
Pan, Tung-Ming
;
Li, Zhi-Hong
;
Deng, Chih-Kang
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-七月-2010
Effects of CF4 Plasma Treatment on the Electrical Characteristics of Poly-Silicon TFTs Using a Tb2O3 Gate Dielectric
Pan, Tung-Ming
;
Li, Zhi-Hong
;
Deng, Chih-Kang
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-二月-2008
Electrical enhancement of polycrystalline silicon thin-film transistors using fluorinated silicate glass passivation layer
Chang, Chia-Wen
;
Deng, Chih-Kang
;
Huang, Jiun-Jia
;
Wang, Tong-Yi
;
Lei, Tan-Fu
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-二月-2008
Electrical properties of high-kappa praseodymium oxide polycrystalline silicon thin-film transistors with nitrogen implantation
Deng, Chih-Kang
;
Chang, Hong-Ren
;
Chiou, Bi-Shiou
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2008
Enhanced performance and reliability for solid-phase crystallized poly-Si TFTs with argon ion implantation (vol 154, pg J375, 2007)
Chang, Chia-Wen
;
Deng, Chih-Kang
;
Chang, Che-Lun
;
Lei, Tan-Fu
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-十二月-2006
ESD robustness of thin-film devices with different layout structures in LTPS technology
Deng, Chih-Kang
;
Ker, Ming-Dou
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-五月-2008
High-performance nanowire TFTs with metal-induced lateral crystallized poly-Si channels
Chang, Chia-Wen
;
Chen, Szu-Fen
;
Chang, Che-Lun
;
Deng, Chih-Kang
;
Huang, Jiun-Jia
;
Lei, Tan-Fu
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-四月-2008
High-performance solid-phase crystallized polycrystalline silicon thin-film transistors with floating-channel structure
Chang, Chia-Wen
;
Deng, Chih-Kang
;
Chang, Che-Lun
;
Liao, Ta-Chuan
;
Lei, Tan-Fu
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2007
On-panel electrostatic discharge (ESD) protection design with thin-film transistor in LTPS process
Ker, Ming-Dou
;
Chuang, Jie-Yao
;
Deng, Chih-Kang
;
Kuo, Chung-Hong
;
Li, Chun-Huai
;
Lai, Ming-Sheng
;
Wang, Chih-Wei
;
Liu, Chun-Ting
;
電機學院
;
College of Electrical and Computer Engineering
1-六月-2006
On-Panel Output Buffer With Offset Compensation Technique for Data Driver in LTPS Technology
Ker, Ming-Dou
;
Deng, Chih-Kang
;
Huang, Ju-Lin
;
電機學院
;
College of Electrical and Computer Engineering
1-十一月-2007
A simple Spacer technique to fabricate poly-Si TFTs with 50-nm nanowire channels
Chang, Chia-Wen
;
Deng, Chih-Kang
;
Chang, Hong-Ren
;
Chang, Che-Lun
;
Lei, Tan-Fu
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-2010
Stability of La(2)O(3) Metal-Insulator-Metal Capacitors under Constant Voltage Stress
Wu, Shu-Hua
;
Deng, Chih-Kang
;
Hou, Tuo-Hung
;
Chiou, Bi-Shiou
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-2010
Stability of La2O3 Metal-Insulator-Metal Capacitors under Constant Voltage Stress
Wu, Shu-Hua
;
Deng, Chih-Kang
;
Hou, Tuo-Hung
;
Chiou, Bi-Shiou
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics