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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Lu, Ching-Sen
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顯示 1 到 13 筆資料,總共 13 筆
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標題
作者
四月-2016
Analysis of Oxide Trap Characteristics by Random Telegraph Signals in nMOSFETs With HfO2-Based Gate Dielectrics
Chen, Ching-En
;
Chang, Ting-Chang
;
You, Bo
;
Tsai, Jyun-Yu
;
Lo, Wen-Hung
;
Ho, Szu-Han
;
Liu, Kuan-Ju
;
Lu, Ying-Hsin
;
Liu, Xi-Wen
;
Hung, Yu-Ju
;
Tseng, Tseung-Yuen
;
Cheng, Osbert
;
Huang, Cheng-Tung
;
Lu, Ching-Sen
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
6-十月-2014
Electron-electron scattering-induced channel hot electron injection in nanoscale n-channel metal-oxide-semiconductor field-effect-transistors with high-k/metal gate stacks
Tsai, Jyun-Yu
;
Chang, Ting-Chang
;
Chen, Ching-En
;
Ho, Szu-Han
;
Liu, Kuan-Ju
;
Lu, Ying-Hsin
;
Liu, Xi-Wen
;
Tseng, Tseung-Yuen
;
Cheng, Osbert
;
Huang, Cheng-Tung
;
Lu, Ching-Sen
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-2015
The Impact of Pre/Post-metal Deposition Annealing on Negative-Bias-Temperature Instability in HfO2 Stack p-Channel Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistors
Lu, Ying-Hsin
;
Chang, Ting-Chang
;
Ho, Szu-Han
;
Chen, Ching-En
;
Tsai, Jyun-Yu
;
Liu, Kuan-Ju
;
Liu, Xi-Wen
;
Tseng, Tseung-Yuen
;
Cheng, Osbert
;
Huang, Cheng-Tung
;
Lu, Ching-Sen
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
19-三月-2007
Impacts of a polycrystalline-silicon buffer layer on the performance and reliability of strained n-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistors with SiN capping
Lu, Ching-Sen
;
Lin, Horng-Chih
;
Huang, Jian-Ming
;
Lee, Yao-Jen
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-四月-2007
Impacts of low-pressure chemical vapor deposition-SiN capping layer and lateral distribution of interface traps on hot-carrier stress of n-channel metal-oxide-semiconductor field-effect-transistors
Lu, Ching-Sen
;
Lin, Horng-Chih
;
Huang, Jian-Ming
;
Lu, Chia-Yu
;
Lee, Yao-Jen
;
Huang, Tiao-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2007
Impacts of precursor flow rate and temperature of PECVD-SiN capping films on strained-channel NMOSFETs
Lu, Ching-Sen
;
Lin, Horng-Chih
;
Lee, Yao-Jen
;
Huang, Tiao-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-十月-2008
Impacts of SiN deposition parameters on n-channel metal-oxide-semiconductor field-effect-transistors
Lu, Ching-Sen
;
Lin, Horng-Chih
;
Huang, Tiao-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2007
Improved hot carrier reliability in strained-channel NMOSFETS with TEOS buffer layer
Lu, Ching-Sen
;
Lin, Horng-Chih
;
Lee, Yao-Jen
;
Huang, Tiao-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2007
Improved NBTI in SiN-capped PMOSFETs with ultra-thin HfO2 buffer
Lu, Ching-Sen
;
Lin, Horng-Chih
;
Chen, Ying-Hung
;
Huang, Tiao-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2007
Improvement of negative-bias-temperature instability in SiN-capped p-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistors using ultrathin HfO2 buffer layer
Lu, Ching-Sen
;
Horng-Chih, Lin
;
Lee, Yao-Jen
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
17-三月-2014
Investigation of abnormal negative threshold voltage shift under positive bias stress in input/output n-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistors with TiN/HfO2 structure using fast I-V measurement
Ho, Szu-Han
;
Chang, Ting-Chang
;
Lu, Ying-Hsin
;
Chen, Ching-En
;
Tsai, Jyun-Yu
;
Liu, Kuan-Ju
;
Tseng, Tseung-Yuen
;
Cheng, Osbert
;
Huang, Cheng-Tung
;
Lu, Ching-Sen
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2007
Optimization of SiN film by varying precursor flow conditions and its impacts on strained channel NMOSFETs
Lu, Ching-Sen
;
Lin, Horng-Chih
;
Huang, Tiao-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2008
具有氮化矽覆蓋之形變通道金氧半場效電晶體特性與相關可靠性問題研究
盧景森
;
Lu, Ching-Sen
;
林鴻志
;
黃調元
;
Lin, Horng-Chih
;
Huang, Tiao-Yuan
;
電子研究所