標題: | 雙狹縫斑點全像干涉術對位移之分析 |
作者: | 吳上富 Wu, Shang-Fu 張明文 黃廣志 Zhang, Ming-Wen Huang, Guang-Zhi 電子研究所 |
關鍵字: | 雙狹縫斑點;全像干涉術;對位移之分析;電子工程;ELECTRONIC-ENGINEERING |
公開日期: | 1979 |
摘要: | 本文主要的目的是研究位置的變化在雙狹縫斑點全像干涉術中所產生的現象,且由基 本的位移形態及特性,建立理論模式與實驗系統,並和一船的斑點全像干涉術加以比 較。 |
URI: | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT684430024 http://hdl.handle.net/11536/51171 |
Appears in Collections: | Thesis |