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2007張力型矽鍺奈米CMOS元件通道工程及可靠性關鍵問題研究(III)莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
1996快閃式記憶元件熱電子效應的可靠性分析莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系
2004採用高層次操作模式及閘氧化層的高性能及可靠性SONOS快閃記憶體之研究(I)莊紹勳; Chung Steve S; 交通大學電子工程系
2005採用高層次操作模式及閘氧化層的高性能及可靠性SONOS快閃記憶體之研究(II)莊紹勳; Chung Steve S; 交通大學電子工程系
2006採用高層次操作模式及閘氧化層的高性能及可靠性SONOS快閃記憶體之研究(III)莊紹勳; Chung Steve S; 交通大學電子工程系
1995次微米MOS元件中反向短通道效應特性分析與模式莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程研究所
1994次微米MOS元件在非熱平衡下含氧化層傷害之熱電子閘極電流模式莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程研究所
2007混合基片奈米CMOS元件技術中各種應力效應對傳輸特性及可靠性影響的研究莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2009混合基片奈米CMOS元件技術中各種應力效應對傳輸特性及可靠性影響的研究莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2008混合基片奈米CMOS元件技術中各種應力效應對傳輸特性及可靠性影響的研究莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2000用於快閃式記憶元件及電路性能與可靠性模擬的元件模式莊紹勳; Chung Steve S; 交通大學電子工程系
1999薄閘氧化層深次微米n-MOS元件的熱載子可靠性分析莊紹勳; Chung Steve S; 交通大學電子工程系
2002超薄氮化閘極氧化層奈米CMOS元件可靠性的新方法研究莊紹勳; Chung Steve S; 交通大學電子工程系
2003高介電氧化層奈米CMOS元件可靠性關鍵問題及界面量測技術研究(I)莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系
2004高介電氧化層奈米CMOS元件可靠性關鍵問題及界面量測技術研究(II)莊紹勳; Chung Steve S; 交通大學電子工程系
2001高介電閘氧化層深次微米MOS元件電漿製程傷害可靠性之研究莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系
2013高性能先進三維閘極CMOS應變元件設計---元件至電路的考量(I)莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2014高性能先進三維閘極CMOS應變元件設計-元件至電路的考量 (II)莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2015高性能先進三維閘極CMOS應變元件設計-元件至電路的考量( III )莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2007高速操作及高資料保存特性SONOS型式快閃記憶體之研究莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
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