1. 目前位置：

瀏覽 的方式： 作者 李崇仁

跳到： 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
或是輸入前幾個字：  
顯示 1 到 20 筆資料，總共 186 筆  下一頁 >
公開日期標題作者
1995THE APPLICATION OF LOW TEMPERATURE（ 850 ℃）　　PROCESS TO FABRICATION OF MOSFET AND TFT林進福; Lin, Jin-Fu; 李崇仁; Li, Chong-Ren; 電子研究所
2000CF4電漿前置處理在超大型積體電路上的相關應用曾泓棋; Tzeng Hung Chi; 李崇仁; Lee Chung Len; 電子研究所
1991Characteristics of polysilicon contacted P﹢-N shallowjunction formed with stacked amorphous silicon films蔡德安; Cai, De-An; 李崇仁; 雷添福; Li, Chong-Ren; Lei, Tian-Fu; 電子研究所
1984CMOS大型積體電路擷取器王錦煌; WANG, JIN-HUANG; 任建葳; 李崇仁; REN, JIAN-WEI; LI, CHONG-REN; 電子研究所
1995CMOS運算放大器之函數測試圖樣產生法張順志; Chang, Soon Jyh; 李崇仁; Chung Len Lee; 電子研究所
2004Delta-Sigma調變器之錯誤診斷陳威憲; Wei-Xian Chen; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1995N2O氣體於深次微米金氧半場效電晶體及複晶矽氧化層之應用賴朝松; Lai, Chao-Song; 雷添福; 李崇仁; Lei, Tian Fu; Li, Chong-Ren; 電子研究所
1994NH3退火效應在複晶矽薄膜電晶體上之研究顏文正; Wen-Cheng Yen; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1991The study of titanium-polycided shallow junctions formed by outdiffusion of BF□﹢/As﹢ from polycrystalline/amorphous silicon黃正同; Huang, Zheng-Tong; 雷添福; 李崇仁; Lei, Tian-Fu; Li, Chong-Ren; 電子研究所
1989一個並行圖樣延遲故障模擬器黃順達; HUANG,SHUN-DA; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子研究所
1988一個並行圖樣混合階層錯誤模擬器黃志松; HUANG, ZHI-SONG; 李崇仁; 沈文仁; LI, CHONG-REN; SHEN, WEN-REN; 電子研究所
1985一個在交換階層的故障模擬器許孟烈; Xu, Meng-Lie; 李崇仁; 沈文仁; Li, Chong-Ren; Shen, Wen-Ren; 電子研究所
1985一個在交換階層的故障模擬器許孟烈; XU, MENG-LIE; 李崇仁; 沈文仁; LI, CHONG-REN; SHENG, WEN-REN; 電子研究所
2002一個基於路徑延遲慣量之新延遲障礙測試方法陳俊良; Chung-Liang Chen; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1984一個整合式超大型積體電路計算機輔助設計系統王惠貞; WANG, HUI-ZHEN; 李崇仁; 沈文仁; LI, SHONG-REN; SHEN, WEN-REN; 電子研究所
1986一個混成電路的電腦輔助線路設計系統陳俊華; CHEN, JUN-HUA; 徐力行; 李崇仁; XU, LI-XING; LI, CHONG-REN; 資訊科學與工程研究所
1993一個測試圖樣平行障礙平行序向邏輯電路障礙模擬硬體加速器謝宗宏; Tzong-Honge Shieh; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1996一個測試圖樣平行障礙平行序向邏輯電路障礙模擬硬體加速器之實現李增煌; Lee, Ten_Hwang; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1985一個用於數位電路的混合階層模擬器吳敬平; WU, JIN-PING; 任建葳; 沈文仁; 李崇仁; REN, JIAN-WEI; SHEN, WEN-REN; LI, CHONG-REN; 電子研究所
1989一功能層次之可測試性度量黃允熙; HUANG,YUN-XI; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子研究所
顯示 1 到 20 筆資料，總共 186 筆  下一頁 >