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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 LEE, CL
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顯示 21 到 40 筆資料,總共 93 筆
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公開日期
標題
作者
1-十二月-1993
THE EFFECTS OF H-2-O-2-PLASMA TREATMENT ON THE CHARACTERISTICS OF POLYSILICON THIN-FILM TRANSISTORS
CHERN, HN
;
LEE, CL
;
LEI, TF
;
電子工程學系及電子研究所
;
奈米中心
;
次微米人才培訓中心
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
;
Nano Facility Center
;
CTR SUBMICRON PROFESS TRAINING
1-六月-1989
EFFECTS OF HEAT-TREATMENT AND ION DOPING OF INDIUM OXIDE
LEE, CH
;
KUO, CV
;
LEE, CL
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
5-七月-1993
ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF A STACKED NITRIDE MICROCRYSTALLINE-SILICON OXIDE SILICON STRUCTURE
WU, SL
;
LEE, CL
;
LEI, TF
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-九月-1995
THE ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF POLYSILICON OXIDE GROWN IN PURE N2O
LAI, CS
;
LEI, TF
;
LEE, CL
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-三月-1993
ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF TEXTURED POLYSILICON OXIDE PREPARED BY A LOW-TEMPERATURE WAFER LOADING AND N-2 PREANNEALING PROCESS
WU, SL
;
LIN, TY
;
LEE, CL
;
LEI, TF
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-二月-1990
ELLIPSOMETRY MEASUREMENT OF THE COMPLEX REFRACTIVE-INDEX AND THICKNESS OF POLYSILICON THIN-FILMS
HO, JH
;
LEE, CL
;
LEI, TF
;
CHAO, TS
;
交大名義發表
;
電控工程研究所
;
National Chiao Tung University
;
Institute of Electrical and Control Engineering
1-八月-1990
ELLIPSOMETRY MEASUREMENTS ON REFRACTIVE-INDEX PROFILES OF THIN-FILMS
HO, JH
;
LEE, CL
;
LEI, TF
;
交大名義發表
;
電控工程研究所
;
National Chiao Tung University
;
Institute of Electrical and Control Engineering
1-九月-1987
ELLIPSOMETRY MEASUREMENTS ON SIO2-FILMS FOR THICKNESSES UNDER 200-A
HO, JH
;
LEE, CL
;
JEN, CW
;
LEI, TF
;
交大名義發表
;
電控工程研究所
;
National Chiao Tung University
;
Institute of Electrical and Control Engineering
1-六月-1995
ENHANCED H-2-PLASMA EFFECTS ON POLYSILICON THIN-FILM TRANSISTORS WITH THIN ONO GATE-DIELECTRICS
YANG, CK
;
LEE, CL
;
LEI, TF
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-四月-1994
ENHANCEMENT OF OXIDE BREAK-UP BY IMPLANTATION OF FLUORINE IN POLY-SI EMITTER CONTACTED P-+-N SHALLOW JUNCTION FORMATION
WU, SL
;
LEE, CL
;
LEI, TF
;
CHEN, CF
;
CHEN, LJ
;
HO, KZ
;
LING, YC
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-八月-1988
ERROR REDUCTION IN THE ELLIPSOMETRIC MEASUREMENT ON THIN-FILMS
HO, JH
;
LEE, CL
;
LEI, TF
;
交大名義發表
;
電控工程研究所
;
National Chiao Tung University
;
Institute of Electrical and Control Engineering
1979
EXTENSION OF THE CHARGE CONTROL MODEL FOR BIPOLAR PHOTOTRANSISTORS
LEE, CL
;
FEUCHT, DL
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-六月-1993
FAULT ANALYSIS ON (K+1)-VALUED PLA STRUCTURE LOGIC-CIRCUITS
WANG, HM
;
LEE, CL
;
CHEN, JE
;
交大名義發表
;
電子物理學系
;
National Chiao Tung University
;
Department of Electrophysics
1-三月-1993
H-2/O-2 PLASMA ON POLYSILICON THIN-FILM TRANSISTOR
CHERN, HN
;
LEE, CL
;
LEI, TF
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
26-十月-1995
HIGH BREAKDOWN VOLTAGE SCHOTTKY-BARRIER DIODE USING P(+)-POLYCRYSTALLINE SILICON DIFFUSED GUARD RING
LIOU, BW
;
LEE, CL
;
LEI, TF
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
25-五月-1995
HIGH-BARRIER PT/AL/N-INP DIODE
HUANG, WC
;
LEI, TF
;
LEE, CL
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-1992
HIGH-PERFORMANCE POLYSILICON CONTACTED SHALLOW JUNCTIONS FORMED BY STACKED-AMORPHOUS-SILICON FILMS
WU, SL
;
LEE, CL
;
LEI, TF
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-九月-1995
IDENTIFYING UNTESTABLE FAULTS IN SEQUENTIAL-CIRCUITS
LIANG, HC
;
LEE, CL
;
CHEN, JE
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-1993
THE IMPACT OF TITANIUM SILICIDE ON THE CONTACT RESISTANCE FOR SHALLOW JUNCTION FORMED BY OUT-DIFFUSION OF ARSENIC FROM POLYSILICON
YANG, WL
;
LEI, TF
;
HUANG, CT
;
LEE, CL
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1994
IMPROVED ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF THIN-FILM TRANSISTORS FABRICATED ON NITROGEN-IMPLANTED POLYSILICON FILMS
YANG, CK
;
LEI, TF
;
LEE, CL
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics