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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 LI, CHONG-REN
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標題
作者
1984
CMOS大型積體電路擷取器
王錦煌
;
WANG, JIN-HUANG
;
任建葳
;
李崇仁
;
REN, JIAN-WEI
;
LI, CHONG-REN
;
電子研究所
1988
一個並行圖樣混合階層錯誤模擬器
黃志松
;
HUANG, ZHI-SONG
;
李崇仁
;
沈文仁
;
LI, CHONG-REN
;
SHEN, WEN-REN
;
電子研究所
1985
一個在交換階層的故障模擬器
許孟烈
;
XU, MENG-LIE
;
李崇仁
;
沈文仁
;
LI, CHONG-REN
;
SHENG, WEN-REN
;
電子研究所
1986
一個混成電路的電腦輔助線路設計系統
陳俊華
;
CHEN, JUN-HUA
;
徐力行
;
李崇仁
;
XU, LI-XING
;
LI, CHONG-REN
;
資訊科學與工程研究所
1985
一個用於數位電路的混合階層模擬器
吳敬平
;
WU, JIN-PING
;
任建葳
;
沈文仁
;
李崇仁
;
REN, JIAN-WEI
;
SHEN, WEN-REN
;
LI, CHONG-REN
;
電子研究所
1986
一對數位線硌之概率式可測性測量模式與程式
黃渭濱
;
HUANG, WEI-BIN
;
李崇仁
;
LI, CHONG-REN
;
電子研究所
1986
一種以路徑終止於停止線為法則的測試圖樣產生器
莊世任
;
ZHUANG, SHI-REN
;
李崇仁
;
LI, CHONG-REN
;
電子研究所
1985
一種新型互補式金氧半浮點乘加運算積體電路之設計
葉儀皓
;
YE, YI-HAO
;
沈文仁
;
李崇仁
;
SHEN, WEN-REN
;
LI, CHONG-REN
;
電子研究所
1991
二氧化鈦薄膜之研究
嚴昌生
;
YAN, CHANG-SHENG
;
雷添福
;
李崇仁
;
LEI, TIAN-FU
;
LI, CHONG-REN
;
電子研究所
1988
以單極性函數理論推導功能測試及可測試性設計
謝發忠
;
XIE, FA-ZHONG
;
李崇仁
;
沈文仁
;
LI, CHONG-REN
;
SHEN, WEN-REN
;
電子研究所
1991
以雜波測試圖樣測試定值故障
陳明宇
;
CHEN, MING-YU
;
李崇仁
;
LI, CHONG-REN
;
電子研究所
1984
佈線圖之邏輯電路檢驗程式
黃清欽
;
HUANG, GING-GIN
;
李崇仁
;
沈文仁
;
LI, CHONG-REN
;
SHEN, WEN-REN
;
電子研究所
1986
使用矽化鈦接觸系統從事垂直卡爾文測試電阻結構之研究
楊文祿
;
YANG, WEN-LU
;
李崇仁
;
雷添福
;
LI, CHONG-REN
;
LEI, TIANN-FU
;
電子研究所
1991
使用複晶矽(非晶矽)為擴散源形成複晶矽化鈦淺椄面之研究
黃正同
;
HUANG, ZHENG-TONG
;
雷添福
;
李崇仁
;
LEI, TIAN-FU
;
LI, CHONG-REN
;
電子研究所
1984
克利斯--為金氧半線路的林界路徑時序分析程式
茹季屏
;
RU, JI-PING
;
李崇仁
;
任建葳
;
LI, CHONG-REN
;
REN, JIAN-WEI
;
電子研究所
1991
分散式障礙模擬
林萬益
;
LIN, WAN-YI
;
李崇仁
;
LI, CHONG-REN
;
電子研究所
1984
半導體中心3.5 微米互補式金氧半積體電路製程之建立
林健輝
;
LIN, JIAN-HUI
;
雷添福
;
李崇仁
;
LEI, TIAN-FU
;
LI, CHONG-REN
;
電子研究所
1988
可測性計量輔助產生測試圖樣
王敏書
;
WANG, MIN-SHU
;
李崇仁
;
沈文仁
;
LI, CHONG-REN
;
SHEN, WEN-REN
;
電子研究所
1988
可測試性設計規則檢查器
陳勁卓
;
CHEN, JIN-ZHUO
;
李崇仁
;
沈文仁
;
LI, CHONG-REN
;
SHEN, WEN-REN
;
電子研究所
1988
同步時序電路之故障模擬器
錢美星
;
QIAN, MEI-XING
;
李崇仁
;
沈文仁
;
LI, CHONG-REN
;
SHEN, WEN-REN
;
電子研究所